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红外测厚仪

利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度。
特定波长(780~2500nm)的近红外光会被材料分子中的C-H键或H-O键选择性吸收,且吸收量与材料中含C-H键或H-〇键的分子数成正比。近红外面密度仪/水分仪便是利用这一原理,通过光电探测器探测透过材料或照射到材料表面的近红外光被吸收量的多少,来推算出含H-〇键或C-H键的材料面密度或水分含量。
近红外测厚仪具有无辐射危害、测量稳定性高、应用简便等特点。
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  • 发布时间 : 2026-01-06
  • 详细介绍
测量原理    
利用红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应实现非接触式测量薄膜类材料的厚度。
特定波长(780~2500nm)的近红外光会被材料分子中的C-H键或H-O键选择性吸收,且吸收量与材料中含C-H键或H-O键的分子数成正比。近红外面密度仪/水分仪便是利用这一原理,通过光电探测器探测透过材料或照射到材料表面的近红外光被吸收量的多少,来推算出含H-O键或C-H键的材料面密度或水分含量。
近红外测厚仪具有无辐射危害、测量稳定性高、应用简便等特点。
     
系统构成   系统优势
1.用户操作终端
用户操作终端包括一个专用的工业控制计算机和高分辨率的彩色显示器。
2.近红外发射源及接收探测头
近红外发射源采用卤素光源,低功率,安全性高、寿命长,工作时间不低于2万小时;接收探测头采用进口近红外传感器,具有温湿度监测与报警功能。模块化与免维护设计,保证了测量系统的高可靠性与使用寿命。
3.主控制柜
主控制柜是测量系统的心脏,提供整个系统稳定的工作电源,负责采集和处理从前置放大器传来的信号,负责测厚仪数据处理和系统接口信号的输出,为测厚仪/面密度仪提供测量数据与控制信号。
 

1.探测器采用进口近红外在线传感器,低功率、寿命长,无放射性,绿色环保,用户无需办安全许可证。

2.精准、快速、连续测量、可靠、免维护、稳定性高。

3.能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来。

4.全轨道偏差校正功能,能对全轨道零点矫正补偿,把测量系统受扫描架机械形变影响降到最低。

5.多种补偿功能,确保在线动态测量的高精度。

6.专有的数据采集和过滤处理手段,保证测量结果更真实、更可信。
7.一键智能标定,易标定校准、操作简易。

     
技术参数   应用领域

1.测量范围:水分:1~85%;面密度:10~800g/㎡;

   测量精度:水分±0.1%:面密度:土0.15g/㎡(根据测量对象而定);
2.扫描速度:50~500mm/s;
3.镜头清洁:吹气清洁装置;
4.供电电压:AC220 1000W;
5.工作温度:0~50°C。

 

1.塑料行业(塑料薄膜、塑料片材、泡沫塑料泡棉);

2.纺织、无纺布、纸张、胶带、胶粘制品、标签等;复合材料行业、涂布、薄膜、橡胶板等行业;

3.挤出制品、商标纸、写真喷绘材料等行业。

本文网址 : https://www.chenyao-tech.cn/product/34.html
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